Эффективная масса
Эффекти́вная ма́сса — величина, имеющая размерность массы и применяемая для удобного описания движения частицы в периодическом потенциале кристалла. Можно показать, что электроны и дырки в кристалле реагируют на электрическое поле так, как если бы они свободно двигались в вакууме, но с некой эффективной массой, которую обычно определяют в единицах массы электрона (9,11×10−31 кг). Эффективная масса электрона в кристалле (электрон проводимости), вообще говоря, отлична от массы электрона в вакууме и может быть как положительной, так и отрицательной[1].
Понятие эффективной массы[править | править код]
Изотропный вариант[править | править код]
Если закон дисперсии электронов в конкретном кристаллическом веществе таков (или с приемлемой точностью может считаться таким), что энергия зависит только от модуля волнового вектора , то эффективной массой электрона, по определению, является величина[2]
- ,
где — постоянная Планка-Дирака.
Иногда в целях радикального упрощения этим приближением ограничиваются, как если бы изотропная ситуация была единственной возможной.
Физический смысл[править | править код]
Скорость движения электрона в кристалле равна групповой скорости электронных волн и определяется как
- .
Здесь — частота. Дифференцируя по времени, определим ускорение электрона:
- .
Сила, действующая на электрон в кристалле, составляет
- ,
где — импульс. Из двух последних выражений получается
- ,
откуда и виден смысл величины как некой «массы».
Типичное поведение[править | править код]
Для свободной частицы закон дисперсии квадратичен и, таким образом, эффективная масса является постоянной и равной массе покоя электрона .
В кристалле ситуация более сложна и закон дисперсии отличается от квадратичного. Тем не менее, кривая закона дисперсии вблизи своих экстремумов часто неплохо аппроксимируется параболой — и тогда эффективная масса также будет константой, хотя и отличной от . При этом может оказаться и положительной (вблизи дна зоны проводимости), и отрицательной (вблизи потолка валентной зоны).
Далеко от экстремумов эффективная масса, как правило, сильно зависит от энергии (формулировка «зависит от энергии» уместна только для изотропного случая), и тогда оперирование ею перестаёт приносить какие-либо удобства.
Анизотропия массы[править | править код]
В общем случае эффективная масса зависит от направления в кристалле и является тензором. Принято говорить о тензоре обратной эффективной массы, его компоненты находятся из закона дисперсии[3][4] :
- ,
где — волновой вектор с проекциями , , на оси декартовой системы координат. Тензорная природа эффективной массы иллюстрирует тот факт, что в кристаллической решётке электрон движется как квазичастица, параметры движения которой зависят от направления относительно кристаллографических осей кристалла. При этом значения зависят не от энергии, а от состояния, задаваемого вектором .
Есть и другие подходы для вычисления эффективной массы электрона в кристалле[5].
Как и в изотропном приближении, использование тензора обратной эффективной массы в основном ограничено областями вблизи экстремумов функции . Вне этих областей — как, например, в случае анализа поведения популяции горячих электронов — рассматриваются непосредственно зависимости , которые табулируются.
Величина для некоторых полупроводников[править | править код]
Характерные значения эффективной массы составляют от долей до единиц , чаще всего около .
В таблице указана[6][7] эффективная масса электронов () и дырок () для важнейших полупроводников — простых веществ IV группы и бинарных соединений AIIIBV и AIIBVI. Все значения представлены в единицах массы свободного электрона .
Материал | ||
---|---|---|
Группа IV | ||
Si (4,2 K) | 1,08 | 0,56 |
Ge | 0,55 | 0,37 |
AIIIBV | ||
GaAs | 0,067 | 0,45 |
InSb | 0,013 | 0,6 |
AIIBVI | ||
ZnSe | 0,17 | 1,44 |
ZnO | 0,19 | 1,44 |
На этом сайте приводится температурная зависимость эффективной массы для кремния.
Экспериментальное определение[править | править код]
Традиционно эффективные массы носителей измерялись методом циклотронного резонанса, в котором измеряется поглощение полупроводника в микроволновом диапазоне спектра в зависимости от индукции магнитного поля . Когда микроволновая частота равняется циклотронной частоте в спектре наблюдается острый пик ( - циклотронная масса). В случае квадратичного изотропного закона дисперсии носителей заряда эффективная и циклотронная массы совпадают, . В последние годы эффективные массы обычно определялись из измерения зонной структуры с использованием таких методов, как фотоэмиссия с угловым разрешением (ARPES), или более прямым методом, основанным на эффекте де Гааза — ван Альфена.
Эффективные массы могут также быть оценены при использовании коэффициента γ из линейного слагаемого низкотемпературного электронного вклада в теплоёмкость при постоянном объёме Теплоёмкость зависит от эффективной массы через плотность состояний на уровне Ферми.
Значимость эффективной массы[править | править код]
Как показывает таблица, полупроводниковые соединения AIIIBV, такие, как GaAs и InSb, имеют намного меньшие эффективные массы, чем полупроводники из четвёртой группы периодической системы — кремний и германий. В самой простой теории электронного транспорта Друде дрейфовая скорость носителей обратно пропорциональна эффективной массе: где , — время релаксации по импульсам и — заряд электрона. Быстродействие интегральных микросхем зависит от скорости носителей, и, таким образом, малая эффективная масса — одна из причин того, что GaAs и другие полупроводники группы AIIIBV используются вместо кремния в приложениях, где требуется широкая полоса пропускания.
В случае переноса электронов и дырок через тонкий полупроводниковый или диэлектрический слой посредством туннельного эффекта эффективная масса в этом слое влияет на коэффициент прохождения (уменьшение массы влечёт увеличение коэффициента прохождения) и, следовательно, на ток.
Эффективная масса плотности состояний[править | править код]
Поведение плотности состояний электронов и дырок вблизи краёв зон аппроксимируется формулами
- ,
где и — энергии краёв валентной зоны и зоны проводимости, соответственно, — постоянная Планка. Входящие сюда величины , носят название эффективных масс плотности состояний. Для изотропного параболического закона дисперсии они совпадают с эффективными массами (раздельно для электронов и дырок), а в более сложных анизотропных случаях находятся численно, с усреднением по направлениям.
Обобщения[править | править код]
Понятие эффективной массы в физике твёрдого тела используется не только применительно к электронам и дыркам[3]. Оно обобщается на другие квазичастицы (типы возбуждений), такие как фононы, фотоны или экситоны, с теми же формулами для расчёта (только подставляются законы дисперсии, соответственно, для фононов и так далее). Тем не менее, основным применением термина всё же является именно кинетика электронов и дырок в кристаллах.
Ссылки[править | править код]
- NSM archive
- Pastori Parravicini, G. Electronic States and Optical Transitions in Solids (англ.). — Pergamon Press , 1975. Книга содержит исчерпывающее, но доступное обсуждение темы с обширным сравнением между теорией и экспериментом.
Примечания[править | править код]
- ↑ Епифанов, 1971, с. 137.
- ↑ Епифанов, 1971, с. 136.
- ↑ 1 2 Физический энциклопедический словарь, статья «Эффективная масса» Архивная копия от 7 октября 2022 на Wayback Machine — М.: Советская энциклопедия. под ред. А. М. Прохорова. 1983.
- ↑ Askerov, B. M. Electron Transport Phenomena in Semiconductors, 5-е изд (англ.). — Singapore: World Scientific, 1994. — P. 416.
- ↑ Пекар С. И. Электроны проводимости в кристаллах // Проблемы теоретической физики. Сборник, посвящённый Николаю Николаевичу Боголюбову в связи с его шестидесятилетием. — М., Наука, 1969. — Тираж 4000 экз. — c. 349—355
- ↑ Sze S.M. Physics of Semiconductor Devices (англ.). — John Wiley & Sons, 1981. — (Wiley-Interscience publication). — ISBN 9780471056614.
- ↑ Harrison W.A. Electronic Structure and the Properties of Solids: The Physics of the Chemical Bond (англ.). — Dover Publications, 1989. — (Dover Books on Physics). — ISBN 9780486660219.
Литература[править | править код]
- Епифанов Г. И. Физические основы микроэлектроники. — М.: Советское радио, 1971. — 376 с.